高并行測試不能損害溫度性能

    德國羅森海姆，2012年12月： 面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最終測試分包商，設計和制造測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布其MT9510 x16在一家批量生產(chǎn)基地成功證明其卓越溫控精度（+/- 2.0°C）。

    Multitest始終用最嚴格的測量方法來控制溫控精度——測試數(shù)據(jù)代表在整個測試時間內(nèi)對受測器件（DUT）測定的動態(tài)溫度精度。在此情況下，該測量適于在三分鐘測試時間內(nèi)對QFN 4x4和QFN 5x5封裝進行高低溫測試。

    MT9510 x16確保即使對16試驗位測試來說，器件亦可真正在規(guī)定溫度條件下完全接受測試。 面臨的挑戰(zhàn)是如何讓器件保持溫度浸潤區(qū)的預浸潤溫度，即使在器件被送入測試區(qū)和被測試時。這只有在測試期間對測試區(qū)進行先進溫度控制的條件下才可能實現(xiàn)。

    基于其MT9510 XP的成熟經(jīng)驗，Multitest通過完美融合高級的機械設計功能和領(lǐng)先的溫控流程，實現(xiàn)了適合高平行測試的高可靠性溫度性能。