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測試測量

激光干涉全場測試技術及其工程應用(二)

星之球激光 來源:佳工機電網(wǎng)2012-08-20 我要評論(0 )   

3激光干涉云紋法 云紋干涉法測試中關鍵和復雜的操作是光路調整,即為實現(xiàn)預定的虛光柵頻率和衍射光束的波前干涉成像。在云紋干涉法的典型光路中,為了實現(xiàn)虛光柵與試件...

       3激光干涉云紋法

  云紋干涉法測試中關鍵和復雜的操作是光路調整,即為實現(xiàn)預定的虛光柵頻率和衍射光束的波前干涉成像。在云紋干涉法的典型光路中,為了實現(xiàn)虛光柵與試件柵的匹配,其調節(jié)是很費時的,在工程測試中難于應用。

  本文采用了可調整出射角的光學—機械系統(tǒng)和計算機控制反射雙向旋轉的步進系統(tǒng),如圖1。其獨到之處是在反射鏡組6、7中各設置兩個步進電機12驅動的旋轉和俯仰機構,設計、配置了專用微型集成塊16和配套的計算機軟件,實現(xiàn)柵頻由微機14控制的小步距大范圍調節(jié),以及初始云紋和載波云紋的精細調控;相應地可實現(xiàn)對測試對象距離的調節(jié),同時保證與準直鏡面積相應的測試面積,以適應對不同位置、角度和距離的對象進行測試的要求。步進調節(jié)每步為15″,相當于3線/毫米,僅為柵線頻率的0.5%(600線/毫米時)~0.1%(3000線/毫米時)。使這一方法易為一般工程技術人員掌握,可在數(shù)分鐘完成,數(shù)百倍地提高了調試效率,便于工程現(xiàn)場應用。

        4 云紋圖像的計算機處理過程

  4.1 濾波處理

  由于試件柵復制過程中有缺陷,測試表面不理想平滑,光場受到某些灰塵等污染,光學元件中的劃痕、斑點等,都將造成云紋圖像中的噪聲,這些噪聲若不予以消除,將在條紋判讀時引起誤判,例如虛假條紋或位置偏移影響測試精度,因此濾波處理是必要的。

  本文采用了兩種濾波處理方法,即非線性邊緣檢測和錐形濾波。對條紋對比度好、稀密適中的圖像,采用保持邊緣濾波(即旋濾波法)即可得到較好的濾波細化效果;在存在分光鏡的二次反射干擾,條紋圖疊加了陰影云紋時,該處云紋條紋切線方向灰度發(fā)生突然變化,造成了濾波細化圖的局部紊亂,為了克服這一困難,引入了非線性邊緣檢測法。

  對于呈現(xiàn)局部的稀疏的點狀排列的條紋圖,采用錐形濾波法,所謂錐即一組圖像的堆疊,將所取某一圖像的下一級圖像稱為子圖像,上一級圖像稱為父圖像,對原圖像劃分為4×4的塊,其相鄰的塊之間互相重疊50%,然后,對其中的每一塊近似地求高斯函數(shù)加權和,以分別得到父圖像的像素。

  對可能在條紋中產(chǎn)生的間斷,采用一種區(qū)域的擴展算法,以消除圖像上黑色物體的空缺,并能把邊緣濾成更規(guī)則的形狀。

  4.2 云紋圖的全自動分塊二值化

  為了能對工程測試中獲得的圖像處理取得良好效果,必須解決光場不勻圖像的二值化處理問題。為了解決光場不勻時要出現(xiàn)顧此失彼現(xiàn)象,采用分塊二值化方法,就是將圖像分布幾個小區(qū)域,以滿足各小區(qū)域內光場均勻的要求,再對每一區(qū)域實施二值化,然后再使整幅圖像二值化,采用上述方法,可成功地實現(xiàn)全自動分塊二值化處理。

       4.3 條紋圖的細化和倍增

  經(jīng)過二值化處理的圖像有一定的寬度,而寬度一般不具有力學量信息。為了便于計算機抽取條紋特征和力學信息,必須抽取其中心線,即進行細化處理,其基本方法就是:在保持圖形連續(xù)性不變的情況下,一點一點地削掉面對二值圖形邊界的點。

  本系統(tǒng)提出一種基于8鄰接的條紋細化方法,其優(yōu)點是細化后的條紋不出現(xiàn)毛刺和間斷點;抽取條紋圖黑、白條紋中心線,相加可得到倍增云紋圖,即靈敏度提高了一倍。

  4.4 條紋級次識別和力學量提取

  由計算機自動并準確地提取一系列力學量,是一個比較復雜的問題。本系統(tǒng)首先通過預處理,得到消除了噪聲和實現(xiàn)了全場二值化及寬度僅為1像束的條紋骨架,這就為掃描過程中不發(fā)生誤判創(chuàng)造了良好的條件。對于水平方向條紋較密,垂直方向較稀的情況,采用“先列后行”的掃描順序;對于相反的情況,則采用“先行掃描后列掃描”搜索方法。然后采用曲線擬合的最小二乘法和偽逆矩陣進行曲線擬合,求出位移及其導數(shù)——應變的解析表達式。對于裂紋尖端附近,條紋級數(shù)發(fā)生急劇變化時,則采取零級兩側分別計算方法,這樣,擬合值與掃描獲得的實測值就會符合得很好。

 

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